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The black silicon method IV: the fabrication of three-dimensional structures in silicon with high aspect ratios for scanning probe microscopy and other applications

机译:黑硅方法IV:以高纵横比在硅中制造三维结构,用于扫描探针显微镜和其他应用

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摘要

The recently developed black silicon method (BSM) is presented as a powerful tool in finding recipes for the fabrication of MEMS building blocks such as Ay-stages. scanning probe tips, inkjet filters, multi-electrodes for neuro-electronic interfaces, and mouldings Lor direct patterning into polymers. The fabrication of these blocks in silicon with high aspect ratios and smooth surface textures will be described and discussed by using the BSM and standard reactive ion etching (ME).
机译:提出了最近开发的黑硅方法(BSM),它是寻找制造MEMS构件(例如Ay-stage)的配方的强大工具。扫描探针头,喷墨过滤器,用于神经电子接口的多电极以及将模具直接图案化为聚合物的模具。将通过使用BSM和标准反应性离子蚀刻(ME)来描述和讨论这些具有高纵横比和光滑表面纹理的硅块的制造。

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